Москва, 3-й проезд Марьиной Рощи, 40, строение 1

Пн-пт 09:00–18:00

Новый подход к повышению точности элементного анализа методом оптико-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.

На днях в научном журнале Аналитика вышла наша новая статья под авторством ведущего специалиста по спектральному оборудованию Михаила Мельника. В публикации речь идет о передовых технологиях и интеллектуальных программных продуктах, реализованных в новых моделях оптико-эмиссионных спектрометров с индуктивно связанной плазмой Agilent 5800 и 5900 ИСП-ОЭС, которые обеспечивают абсолютно новый подход к повышению точности анализа образцов различной природы и состава.

Читать весь журнал >>
назад к публикациям